众所周知,新能源汽车主驱逆变器对碳化硅芯片的可靠性要求非常高,为确保逆变器在整个使用寿命期间功能正常,通常碳化硅芯片产品在出厂前均需进行老化测试,以筛选掉可靠性异常的SiC MOSFET芯片。 但是如何高效、低成本而准备地筛选异常SiC芯片一直是产业界的难题。 近日,理... [查看详情]